14

The Poole-Frenkel effect in 6H-SiC diode characteristics

Année:
1994
Langue:
english
Fichier:
PDF, 466 KB
english, 1994
16

Numerical study of avalanche breakdown of 6H-SiC planar p-n junctions

Année:
1997
Langue:
english
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PDF, 475 KB
english, 1997
21

The use of data warehouses in the healthcare sector

Année:
2002
Langue:
english
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PDF, 46 KB
english, 2002
25

Avalanche breakdown of high-voltage p-n junctions of SiC

Année:
1996
Langue:
english
Fichier:
PDF, 720 KB
english, 1996
28

Electron thermal emission rates of nickel centers in silicon

Année:
1986
Langue:
english
Fichier:
PDF, 164 KB
english, 1986
29

Constant-capacitance deep-level optical spectroscopy

Année:
1989
Langue:
english
Fichier:
PDF, 631 KB
english, 1989
30

Rie-induced damage in MOS structures

Année:
1990
Langue:
english
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PDF, 515 KB
english, 1990
32

Admittance spectroscopy in junctions

Année:
1992
Langue:
english
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PDF, 1.05 MB
english, 1992
34

Detailed computer simulation of damage accumulation in ion irradiated crystalline targets

Année:
1993
Langue:
english
Fichier:
PDF, 291 KB
english, 1993
43

Thermal emission processes of DX centres in AlxGa1−xAs:Si

Année:
1997
Langue:
english
Fichier:
PDF, 533 KB
english, 1997
48

Analysis of Thermal Capture of the Acceptor Level of Gold in Silicon

Année:
1982
Langue:
english
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PDF, 478 KB
english, 1982